การทดสอบคุณภาพผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ การคัดกรองความน่าเชื่อถือของอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์
ด้วยการพัฒนาเทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์ จำนวนแอปพลิเคชันของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ในอุปกรณ์ก็เพิ่มขึ้นเรื่อย ๆ และความน่าเชื่อถือของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ก็ถูกหยิบยกไปสู่ข้อกำหนดที่สูงขึ้นเรื่อย ๆชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์เป็นพื้นฐานของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์และทรัพยากรพื้นฐานเพื่อให้มั่นใจในความน่าเชื่อถือสูงของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ ซึ่งความน่าเชื่อถือส่งผลโดยตรงต่อประสิทธิภาพการทำงานของอุปกรณ์อย่างเต็มที่เพื่อช่วยให้คุณเข้าใจอย่างลึกซึ้ง จึงมีเนื้อหาต่อไปนี้ไว้เพื่อใช้อ้างอิง
คำจำกัดความของการคัดกรองความน่าเชื่อถือ:
การคัดกรองความน่าเชื่อถือคือชุดการตรวจสอบและทดสอบเพื่อเลือกผลิตภัณฑ์ที่มีคุณสมบัติบางอย่างหรือกำจัดความล้มเหลวก่อนกำหนดของผลิตภัณฑ์
การคัดกรองความน่าเชื่อถือ วัตถุประสงค์:
หนึ่ง: เลือกผลิตภัณฑ์ที่ตรงตามข้อกำหนด
สอง: ขจัดความล้มเหลวของผลิตภัณฑ์ตั้งแต่เนิ่นๆ
ความสำคัญในการคัดกรองความน่าเชื่อถือ:
ระดับความน่าเชื่อถือของชุดส่วนประกอบสามารถปรับปรุงได้โดยการคัดกรองผลิตภัณฑ์ที่มีความล้มเหลวตั้งแต่เนิ่นๆภายใต้สภาวะปกติ อัตราความล้มเหลวสามารถลดลงครึ่งหนึ่งเหลือหนึ่งลำดับความสำคัญ และแม้กระทั่งสองลำดับความสำคัญ
คุณสมบัติการคัดกรองความน่าเชื่อถือ:
(1) เป็นการทดสอบแบบไม่ทำลายผลิตภัณฑ์ที่ไม่มีข้อบกพร่องแต่มีประสิทธิภาพที่ดี ในขณะที่ผลิตภัณฑ์ที่อาจเกิดข้อบกพร่องก็ควรกระตุ้นให้เกิดความล้มเหลว
(2) การคัดกรองความน่าเชื่อถือคือการทดสอบ 100% ไม่ใช่การตรวจสอบการสุ่มตัวอย่างหลังจากการทดสอบแบบคัดกรองแล้ว ไม่ควรเพิ่มโหมดและกลไกความล้มเหลวใหม่ลงในแบทช์
(3) การคัดกรองความน่าเชื่อถือไม่สามารถปรับปรุงความน่าเชื่อถือโดยธรรมชาติของผลิตภัณฑ์ได้แต่สามารถปรับปรุงความน่าเชื่อถือของแบทช์ได้
(4) การคัดกรองความน่าเชื่อถือโดยทั่วไปประกอบด้วยรายการทดสอบความน่าเชื่อถือหลายรายการ
การจำแนกประเภทของการคัดกรองความน่าเชื่อถือ:
การคัดกรองความน่าเชื่อถือสามารถแบ่งออกเป็นการคัดกรองตามปกติและการคัดกรองสภาพแวดล้อมพิเศษ
ผลิตภัณฑ์ที่ใช้ภายใต้สภาพแวดล้อมทั่วไปจะต้องผ่านการคัดกรองเป็นประจำเท่านั้น ในขณะที่ผลิตภัณฑ์ที่ใช้ภายใต้สภาพแวดล้อมพิเศษจะต้องผ่านการคัดกรองด้านสิ่งแวดล้อมพิเศษ นอกเหนือจากการคัดกรองตามปกติ
การเลือกการคัดกรองจริงจะขึ้นอยู่กับโหมดความล้มเหลวและกลไกของผลิตภัณฑ์เป็นหลัก ตามเกรดคุณภาพที่แตกต่างกัน รวมกับข้อกำหนดด้านความน่าเชื่อถือหรือเงื่อนไขการบริการจริงและโครงสร้างกระบวนการ
การคัดกรองเป็นประจำแบ่งตามคุณสมบัติการคัดกรอง:
1 การตรวจและคัดกรอง: การตรวจด้วยกล้องจุลทรรศน์และคัดกรองการคัดกรองแบบไม่ทำลายด้วยอินฟราเรดรหัส PINการคัดกรองเอ็กซ์เรย์แบบไม่ทำลาย
screening การคัดกรองการปิดผนึก: การคัดกรองการรั่วไหลของการแช่ของเหลวการคัดกรองการตรวจจับการรั่วไหลของมวลฮีเลียมสเปกโตรเมทรีการตรวจคัดกรองการรั่วไหลของสารกัมมันตภาพรังสีการคัดกรองการทดสอบความชื้น
(3) การคัดกรองความเครียดจากสิ่งแวดล้อม: การสั่นสะเทือน ผลกระทบ การคัดกรองการเร่งความเร็วแบบแรงเหวี่ยงการคัดกรองภาวะช็อกด้วยอุณหภูมิ
(4) การคัดกรองชีวิต: การคัดกรองการจัดเก็บที่อุณหภูมิสูงการคัดกรองอายุพลังงาน
การคัดกรองภายใต้เงื่อนไขการใช้งานพิเศษ - การคัดกรองรอง
การคัดกรองส่วนประกอบแบ่งออกเป็น "การคัดกรองหลัก" และ "การคัดกรองรอง"
การคัดกรองที่ดำเนินการโดยผู้ผลิตส่วนประกอบตามข้อกำหนดเฉพาะของผลิตภัณฑ์ (ข้อกำหนดทั่วไป ข้อกำหนดโดยละเอียด) ของส่วนประกอบก่อนส่งมอบให้กับผู้ใช้เรียกว่า "การคัดกรองหลัก"
การคัดกรองซ้ำที่ดำเนินการโดยผู้ใช้ส่วนประกอบตามความต้องการการใช้งานหลังการจัดซื้อเรียกว่า "การคัดกรองรอง"
วัตถุประสงค์ของการคัดกรองขั้นที่สองคือการเลือกส่วนประกอบที่ตรงตามความต้องการของผู้ใช้ผ่านการตรวจสอบหรือการทดสอบ
(การคัดกรองรอง) ขอบเขตการใช้งาน
ผู้ผลิตส่วนประกอบไม่ได้ดำเนินการ "การคัดกรองครั้งเดียว" หรือผู้ใช้ไม่มีความเข้าใจเฉพาะเจาะจงเกี่ยวกับรายการและความเครียด "การคัดกรองครั้งเดียว"
ผู้ผลิตส่วนประกอบได้ดำเนินการ "การคัดกรองครั้งเดียว" แต่รายการหรือความเครียดของ "การคัดกรองครั้งเดียว" ไม่สามารถตอบสนองข้อกำหนดด้านคุณภาพของผู้ใช้สำหรับส่วนประกอบนั้นได้
ไม่มีข้อกำหนดเฉพาะในข้อกำหนดเฉพาะของส่วนประกอบ และผู้ผลิตส่วนประกอบไม่มีรายการคัดกรองพิเศษที่มีเงื่อนไขการคัดกรอง
ส่วนประกอบที่ต้องได้รับการตรวจสอบว่าผู้ผลิตส่วนประกอบได้ดำเนินการ "การคัดกรองครั้งเดียว" ตามข้อกำหนดของสัญญาหรือข้อกำหนดเฉพาะ หรือหากมีข้อสงสัยในความถูกต้องของ "การคัดกรองครั้งเดียว" ของผู้รับเหมา
การคัดกรองภายใต้เงื่อนไขการใช้งานพิเศษ - การคัดกรองรอง
รายการทดสอบ "การคัดกรองรอง" สามารถอ้างอิงถึงรายการทดสอบคัดกรองหลัก และปรับแต่งได้อย่างเหมาะสม
หลักการกำหนดลำดับของรายการคัดกรองรองคือ:
(1) รายการทดสอบต้นทุนต่ำควรแสดงรายการไว้เป็นอันดับแรกเนื่องจากสามารถลดจำนวนอุปกรณ์ทดสอบที่มีต้นทุนสูงจึงช่วยลดต้นทุนได้
(2) รายการคัดกรองที่จัดอยู่ในรายการคัดกรองครั้งหลังจะต้องเอื้อต่อการเปิดเผยข้อบกพร่องของส่วนประกอบในรายการคัดกรองครั้งหลัง
(3) จำเป็นต้องพิจารณาอย่างรอบคอบว่าการทดสอบใดในทั้งสองการทดสอบ การปิดผนึกและการทดสอบทางไฟฟ้าขั้นสุดท้าย เกิดขึ้นก่อนและการทดสอบใดเกิดขึ้นที่สองหลังจากผ่านการทดสอบทางไฟฟ้า อุปกรณ์อาจทำงานล้มเหลวเนื่องจากความเสียหายจากไฟฟ้าสถิตและสาเหตุอื่นๆ หลังการทดสอบการซีลหากมาตรการป้องกันไฟฟ้าสถิตในระหว่างการทดสอบการปิดผนึกมีความเหมาะสม โดยทั่วไปการทดสอบการปิดผนึกควรอยู่ลำดับสุดท้าย